由國家自然科學基金委員會工程與材料科學部和政策局共同主辦的第82期“雙清論壇”于10月21-23日在北京召開。本次論壇的主題是“走進亞埃世界：材料界面工程中精細原子構型與其特性”，召開背景是近幾年來通過球差矯正等手段，透射電子顯微鏡的分辨本領終於突破了1埃的水平，可以在更精細的層次上認知物質的原子構型和電子結構。論壇目的在於研討亞埃尺度分析在物質科學可能引起的重大突破，確定在未來五至十年乃至更長一個時期內我國在物質結構表徵亞埃尺度認知方面的發展思路和優先發展方向。
中國科學院金屬研究所葉恒強院士、清華大學朱靜院士、浙江大學張澤院士和西安交通大學賈春林教授共同擔任本次論壇主席，來自國內外23所大學及科研院所的38位專家出席會議，其中包括3位海外學者。基金委副秘書長高瑞平出席會議並致辭，介紹了雙清論壇背景及意義，高度評價了材料微觀分析工作者在我國材料科學發展中所起的重要作用，並希望大家結合像差校正電鏡做出更出色的研究工作。
本次論壇分主題報告和專題報告兩部分。主題報告圍繞像差矯正電鏡的發展及在材料科學中的應用現狀，專題報告圍繞材料結構觀察和界面調製等內容。會議的熱點話題包括亞埃尺度的表徵技術可能解決的材料科學領域難題，涉及高溫合金、輕合金、電子材料和能源材料；原子尺度的結構和局域物理、化學、力學性能表徵；界面的原子構型、電子結構和物理性能，以及我國在電鏡表徵技術上可能發展的新工具、新方法等。
論壇主席和與會學者一致認為本次論壇選擇的主題契合當前表徵技術的歷史性突破，具有重要的戰略意義。與會專家建議應進一步重視和加強相關的基礎研究，尤其是在材料界面工程中的精細原子構型與其特性方面的研究，促進高溫合金、鐵性材料和催化材料等重要材料的進步，滿足我國相關領域的重大需求。
