航天科工二院物理特徵分析技術獲國家發明專利

近日，中國航天科工集團公司二院201所失效分析研究室 “半導體器件物理特徵分析方法”發明通過了國家專利局的最終審核，被授予國家發明專利，標誌著201所在倣冒翻新元器件鑒別分析技術領域走在了行業前列，並掌握了核心技術的話語權。

“半導體器件物理特徵分析方法”(即PFA)的形成源於失效分析研究室早在2008年即開始關注的進口半導體器件倣冒翻新問題。隨著電子和信息技術的快速發展，包括半導體器件在內的電子元器件更新換代週期變短，導致元器件用戶的供應鏈管理出現困難，即原設計使用的元器件可能已經停産，特別是對元器件用量少、品種多、可靠性要求高的部件或整機廠家而言，由於採購量小且必須通過代理商進行採購，因此給倣冒翻新器件提供了進入産業鏈的機會。如進入軍品供應鏈，則將嚴重影響裝備的質量與可靠性。因此，鑒別所購元器件特別是進口半導體器件是否為防冒翻新産品是軍品檢驗不可或缺的重要環節。

失效分析研究室經過4年時間的檢測分析經驗積累，利用2年(2012-2013年)時間對進口器件倣冒翻新識別技術進行了集中研發和攻關。2013年中旬轉化為實際技術成果，並首創了“半導體器件物理特徵分析”(PFA)這一技術名詞，編寫了相應的標準，隨即進行了專利申請。2014年，PFA已正式成為二院型號進口元器件質量保證流程中的最前道環節。

本次專利申請的獲批也有助於軍品元器件檢測分析技術向民品領域的拓展推廣，未來元器件物理特徵分析技術有望涉足船舶、汽車、高鐵等高可靠工業電子領域，以及涉及元器件採購合同糾紛的司法鑒定領域。