EN
https://www.gov.cn/

工商總局副局長會見日本特許廳長官宗像直子

2017-11-15 10:19 來源: 工商總局網站
字號: 默認 超大 | 打印 |

劉俊臣會見日本特許廳長官宗像直子時表示
繼續深化合作 努力取得更多豐碩成果

11月13日,國家工商總局副局長劉俊臣會見了來訪的日本特許廳長官宗像直子一行。劉俊臣表示,兩國在知識産權相關領域一直保持著友好的交流合作關係,希望雙方未來繼續深化合作,努力取得更多豐碩成果。

劉俊臣歡迎宗像直子女士率團來訪,介紹了國家工商總局的職能以及中國商標事業的發展情況。他指出,中國政府正在積極推進“放管服”改革,大幅度降低了市場準入門檻,促進了市場主體大幅增長,也帶動了商標註冊申請量大量增長。截至2017年10月底,我國累計商標註冊申請量1671萬件,2017年全年商標申請量將突破500萬件。中國是一個商標大國,但中國還不是商標強國。國家工商總局一直以來高度重視商標工作,大力推進商標註冊便利化改革,不斷加大商標知識産權保護力度,指導地方政府和企業開展品牌建設,努力培育知名品牌。

劉俊臣指出,商標註冊申請量的增長給中國帶來很大的商標審查壓力,工商總局為此進一步推動商標註冊便利化改革,加強商標信息化系統建設,進一步提高審查效率。同時,在全國各地設立商標申請受理窗口,在京外設立商標審查協作中心,擴大網上申請。

宗像直子感謝劉俊臣副局長的會見。她表示,日中兩國同屬於一個文化圈,擁有共同的漢字文化,希望同中國國家工商總局開展更多的合作。同時,為密切兩國之間的關係,不僅要加強兩國大企業之間的合作,也要加強兩國中小企業之間的交流合作。日本特許廳願與中國國家工商總局攜手維護好兩國企業合法權益,為促進兩國經濟發展、商貿繁榮作出積極貢獻。

會談中,雙方還就非傳統商標的審查、商標圖形要素檢索等領域的工作實踐交換了意見。(栗世民)

【我要糾錯】 責任編輯:石璐言
掃一掃在手機打開當前頁